PL Imaging photoluminescence imaging BT imagingg

 
 
 
 

LIS-R3

光伏实验室的“高级标配”

LIS-R3是一台全新升级的高级实验室设备,适用于硅块、硅棒、硅片、太阳能电池和小组件。根据多年发展以及不断改进,很多世界领先的研究机构以及硅片、电池、组件生产商正在使用该设备。主要应用包括工艺改进、实验室研发、工艺调试和根源问题分析、质量保证与质量控制,及安装过程和设备终验收过程的提速。LIS-R3 应用了BT imaging专利的光致发光技术和Rs成像、电致发光成像、偏压PL成像、QSS-PC注入水平决定的少子寿命曲线、校准少子寿命成像、由市场领先的图像处理算法自动得出的硅片和硅碇缺陷参数、Suns-Voc曲线、暗场及光场IV测试,加上LIS-R系列软件更新包的一系列新的分析方法。

LIS-R2-Plus

光伏实验室和质量控制方面的全能型研发设备

LIS-R2-Plus得益于BT Imaging的大量开发工作,降低了原有LIS-R2实验室设备的成本。现在我们通过降低新的LIS-R2设备售价的方式,将福利回馈给客户。全新的LIS-R2-Plus是领先的综合性PL实验室测量设备,可测硅块、硅片和电池。它也适用于电池生产线中的抽样检查,帮助实现快速的每条工艺产线上的反馈和调试。由BT Imaging大量专利支持。

LIS-R系列软件更新包

为您的BT Imaging实验室设备增添新功能

一系列高等硅片与电池分析功能已经在全新的LIS-R3上作为可选选项提供。已经购买LIS-R1、LIS-R2的客户亦可通过软件升级来实现这些功能。它们包括:(1)电池IV测试功能软件包,(2)高等电池分析功能软件包,(3)表体分离功能软件包(4)多晶硅片算法功能软件包,(5)单晶硅片分析软件包, 和 (6) 单晶厚晶圆分析功能软件包。

LIS-R系列电池测试机台升级

支持5BB和6BB的电池设计

升级版LIS-R系列电池机台装有5排或6排探针,适用于3到5或4到6根主栅的电池设计。用户可以根据需要移开1排或多排探针,以便测试3栅或4栅电池。新的测片台能够改善Rs和EL成像质量并且允许使用高等电池分析功能。

Qa与iQ系统

离线开发设备

Qa和iQ系统是为离线工艺、生产开发及高频度质量控制设计的,它们与iLS-W3和iLS-C3检测模块兼容。该设备也可做独立使用的设备,配备多种商量和下料方式。或者,它集成到现有的工厂自动化中。此外,这些系统可以安装BT Imaging高级软件包,既可用于在线过也能于离线模式下用于后置数据处理。

iLS-W3

产线硅片检测

iLS-W3是拥有全新设计的软硬件的终极硅片电学质量检测模块,是用于硅片和电池产线的检测系统。该设备融合了BT Imaging的专利PL成像技术,测片速度高达5400片每小时。这是全世界唯一拥有众多光致发光专利和市场领先的算法的在线PL检测机台。典型使用案例包括硅片拒收、通过电池效率预测进行硅片质量分选、硅片和电池R&D,及产线工艺改进以及调试。

iLS-C3

产线电池缺陷检测

iLS-C3是针对产线电池最新推出的连续性PL成像检测模块,是比EL成像检测更快且不接触检测样品的方式。利用自动成像算法,iLS-C3可以在生产过程中找到一片电池的所有缺陷并选择拒收。该模块的配置让它可以轻松适配多数电池设计和分选设备

LIS-B3

产线硅块与晶棒检测

LIS-B3是BT Imaging的最新硅块和晶棒产线的检测设备,通过报告此类样品的体寿命来确保后续生产的硅片可作为高效电池的材料。该设备质量控制和工艺改进的帮手。LIS-B3的设计是与领先的硅块和硅碇生产商缜密磋商的结果。硅块和硅碇由人工或者机械装载。测量速率能够满足100%产品检测。请联系BT Imaging了解更多详情。

QS-W3

产线PL成像硅片检测系统

QS-W3是光伏产业领先的针对硅片和电池产线的检测系统。QS-W3使用最先进的硅片检测模块分类或拒收所有种类的多晶和单晶硅片,这些模块包括BT Imaging的PL成像专利技术及可选择添加的一系列其他常见的检测单元。QS-W3有许多自动化选项,测量速率可达5000片每小时,并且可以最多安装24个分选槽和8个检测台,检测台拥有堆叠式、盒式或者嵌入式在线装载模块,碎片率小于0.1%。QS-W3 装有BT Imaging研发的根据PL成像和其他检测信息分选和拒收硅片的算法;这些算法可以适用于对硅片分选和拒收有特定要求的电池产线。

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